BPK logo

Biblioteka

Politechniki Koszalińskiej

Papier i tektura : pomiar połysku. Cz. 2, Połysk pod kątem 75 [stopni] z zastosowaniem wiązki równoległej, metodą DIN.

Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: Polish Publication details: Warszawa : Polski Komitet NormalizacyjnyEdition: Zatwierdzono: 2004.12.14Other title:
  • PN-EN ISO 8254-2:2002
Subject(s): Other classification:
  • ICS 85.060
Online resources: Summary: Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 75 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 65 mierzonym zgodnie z niniejszą normą europejską. Zaleca się, aby była preferowaną metodą dla papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 20 mierzonego zgodnie z niniejszą normą europejską. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Total holds: 0

Wprowadza: ISO 8254-2:2003

Wprowadza: EN ISO 8254-2:2003

Zastępuje: PN-EN ISO 8254-2:2003 (U)

Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 75 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 65 mierzonym zgodnie z niniejszą normą europejską. Zaleca się, aby była preferowaną metodą dla papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 20 mierzonego zgodnie z niniejszą normą europejską. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane.

© 2023 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: KOHA