Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności /
Pleskacz, Witold A.
Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności / Witold A. Pleskacz. - Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2009. - 119 s. : il. ; 24 cm. - (Prace Naukowe / Politechnika Warszawska. Elektronika, 0137-2343 ; z. 172 )
Opis wg okł. Tyt. nagł. serii : Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej.
Bibliogr. s. 107-116.
Streszcz. ang.
01372343
Układy scalone--badanie
621.3.049.77
Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności / Witold A. Pleskacz. - Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2009. - 119 s. : il. ; 24 cm. - (Prace Naukowe / Politechnika Warszawska. Elektronika, 0137-2343 ; z. 172 )
Opis wg okł. Tyt. nagł. serii : Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej.
Bibliogr. s. 107-116.
Streszcz. ang.
01372343
Układy scalone--badanie
621.3.049.77