Normal view MARC view ISBD view

Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności / Witold A. Pleskacz.

By:

Material type: Text

TextLanguage: Polish Summary language: English Series: Publication details: Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2009.Description: 119 s. : il. ; 24 cmISSN:

Subject(s):

Online resources:

List(s) this item appears in: Elektronika i telekomunikacja

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings
Item type	Current library	Call number	Status	Date due	Barcode	Item holds
Book	Biblioteka Politechniki Koszalińskiej Wypożyczalnia BG	94781	Available		02452685

Total holds: 0

Opis wg okł. Tyt. nagł. serii : Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej.

Bibliogr. s. 107-116.

Streszcz. ang.