| 000 | 01333nam a2200289 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | normy2005 | ||
| 003 | BPK | ||
| 005 | 20141126133633.0 | ||
| 008 | 121231s pl a f u |000 0 pol | ||
| 040 | _cBPK | ||
| 041 | _apol | ||
| 084 | _aICS 85.060 | ||
| 245 |
_aPapier i tektura : _bpomiar połysku : połysk pod kątem 45 [stopni] z zastosowaniem wiązki równoległej, metodą DIN. |
||
| 246 | _aPN-EN 14086:2004 | ||
| 250 | _aZatwierdzono: 2004.12.14 | ||
| 260 |
_aWarszawa : _bPolski Komitet Normalizacyjny |
||
| 500 | _aWprowadza: EN 14086:2003 | ||
| 500 | _aZastępuje: PN-EN 14086:2003 (U) | ||
| 520 | _aOkreślono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 45 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o wysokim połysku, potocznie nazywanych lśniącymi papierami i tekturami, mającymi wartości współczynników odbicia fal, mierzone zgodnie z niniejszą normą europejską, powyżej 7. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane. | ||
| 653 | _apapier | ||
| 653 | _atektura | ||
| 653 | _apołysk | ||
| 710 | _aKT nr 25 ds. Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów | ||
| 780 | _tPN-EN 14086:2003 (U) | ||
| 942 | _cNR | ||
| 998 |
_ceg _d2005.06.03 |
||
| 999 |
_c65492 _d65492 |
||
| 856 |
_uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=65492 _yKatalog online BPK |
||