000 01638nam a2200481 i 4500
001 56955
003 KOSZ 005
005 20210601105302.0
008 100225s2009 pl a f |000 0 pol
015 _aPB 16323/2009
020 _a9788371438066
040 _cWA N
_aWA N
_dKOSZ 005/HR
041 0 _apol
_beng
044 _aPOL
046 _k2009
080 _a621.791/.795
080 _a620.17
080 _a531.7
100 1 _aWieczorowski, Michał
_eAutor
245 1 0 _aWykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni /
_cMichał Wieczorowski.
260 _aPoznań :
_bWydawnictwo Politechniki Poznańskiej,
_c2009.
300 _a340, [1] s. :
_bil. (w tym kolor.) ;
_c24 cm.
336 _2rdacontent
_aTekst
_btxt
337 _2rdamedia
_aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
338 _2rdacarrier
_aWolumin
_bnc
380 _aKsiążki
380 _aPublikacje naukowe
388 _a2001-
490 1 _aRozprawy / Politechnika Poznańska,
_x0551-6528 ;
_vnr 429
504 _aBibliografia na stronach 263-340.
546 _aStreszcz. ang.
650 4 _aChropowatość
650 4 _aPomiary
650 4 _aInżynieria powierzchni
650 4 _aPowierzchnia
655 4 _aRozprawa habilitacyjna
655 4 _aMonografia
658 _aInżynieria i technika
710 2 _aWydawnictwo Politechniki Poznańskiej
_4pbl.
830 0 _aRozprawy - Politechnika Poznańska,
_vnr 429
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56955
_yKatalog online BPK
942 _cKS
_2UKD
999 _c56955
_d56955