000 00902nam a2200301 i 4500
001 bg
100 1 _aCiepłucha, Jan.
245 1 0 _aPodstawy metrologii /
_cJan Ciepłucha.
250 _aWyd. 2 rozsz. i zm.
260 _aŁódź :
_bWydawnictwo Politechniki Łódzkiej,
_c2008.
300 _a288 s. :
_bil. ;
_c24 cm.
490 1 _aPodręczniki Akademickie / Politechnika Łódzka
500 _aNa grzb. kolejny nr wydawnictw PŁ: 1806.
504 _aBibliogr. s. 269-271. Indeks.
650 9 _aPomiary
650 9 _aPrzyrządy pomiarowe
655 _aPodręczniki akademickie
830 0 _aPodręczniki Akademickie - Politechnika Łódzka
015 _aPB 29743/2008
020 _a9788372832702
040 _cBPK
041 _apol
044 _aPOL
080 _a53.08:006.9(075.8)
920 _a978-83-7283-270-2
942 _cKS
008 090512s2008 pl a |001 0 pol
999 _c56301
_d56301
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56301
_yKatalog online BPK