000 01733nam a2200517 i 4500
001 4563
003 KOSZ 005
005 20200421113606.0
008 970612s1991 pl a |000 0 pol
009 b0000001051440
015 _aUWD 1991/5690
020 _a8320609569
040 _aWA N
_cWA N
_dKOSZ 005/AR
041 _apol
044 _apl
046 _k1991
080 _a621.3.049.77
080 _a621.317
080 _a681
080 _a(075.8)
100 1 _aSowiński, Andrzej
_d(1922-1996)
_eAutor
245 1 0 _aAutomatyczne testowanie w mikroelektronice /
_cAndrzej Sowiński ; [rozdział 12 opracował Marek A. Kubiś].
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Komunikacji i Łączności,
_c1991.
300 _a432 strony, [2] karty tablic luzem :
_bilustracje ;
_c25 cm.
336 _aTekst
_btxt
_2rdacontent
337 _aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
_2rdamedia
338 _aWolumin
_bnc
_2rdacarrier
380 _aKsiążki
388 _a1901-2000
388 _a1989-2000
504 _aBibliografia na stronach 415-432.
650 7 _aKontrola techniczna
_2DBN
650 7 _aMikroelektronika
_2DBN
655 7 _aPodręczniki akademickie
_2DBN
658 _aInżynieria i technika
700 1 _aKubiś, Marek A.
_eAutor
710 2 _aWydawnictwa Komunikacji i Łączności
_4pbl
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=4563
_yKatalog online BPK
942 _2UKD
_cKS
999 _c4563
_d4563