000 00932nam a2200265 i 4500
001 bg
245 0 0 _aWspółczesna metrologia :
_bzagadnienia wybrane /
_cJerzy Barzykowski [et al.].
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_c2004.
300 _a573, [1] s. :
_bil. ;
_c24 cm.
504 _aBibliogr. po rozdz.
650 9 _aPomiary
650 9 _aEksperyment
_xplanowanie
650 9 _aSieci neuronowe
_xstosowanie
650 9 _aOptoelektronika
655 _aPodręczniki akademickie
700 1 _aBARZYKOWSKI, Jerzy.
_eRed.
020 _a8320428882
040 _cBPK
041 0 _apol
080 _a006.91:531.7:621.317:535.8:004](075.8)
920 _a83-204-2888-2
942 _cKS
008 s pl f |000 0 pol
999 _c43987
_d43987
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=43987
_yKatalog online BPK