000 00929nam a2200265 i 4500
001 bg
100 1 _aSIKORSKI, Krzysztof
245 1 0 _aMikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek /
_cKrzysztof Sikorski.
260 _aWarszawa :
_bOficyna Wydawnicza PW,
_c2000.
300 _a106, [2] s. :
_bwykr. ;
_c24 cm.
490 1 _aPrace Naukowe / Politechnika Warszawska. Inżynieria Materiałowa,
_x1234-5229 ;
_vz. 11
500 _aOpis wg okł.
504 _aBibliogr. s. 100-106.
650 9 _aCienkie warstwy
_xbadanie
650 9 _aCząsteczka
_xbadanie
650 9 _aChemia analityczna ilościowa
_xmetody
650 9 _aRentgenografia
_xmetody
650 9 _aSpektroskopia
_xmetody
830 0 _aPrace Naukowe (Politechnika Warszawska).
_pInżynieria Materiałowa ;
_vz. 11
040 _cBPK
041 0 _apl
_ben
080 _a543.4.062/.063
942 _cKS
008 s pl f |000 0 pol
999 _c39106
_d39106
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=39106
_yKatalog online BPK