000 01203nam a2200301 i 4500
001 bg
111 2 _aConference on Electron Microscopy of Solids
_n(10 ;
_d1999 ;
_cWarsaw-Serock).
245 0 0 _aProceedings of the X Conference on Electron Microscopy of Solids [EM'99] :
_bWarsaw-Serock, Poland September 20-23, 1999 /
_ced. by E. Jezierska and J. ; [Warsaw University of Technology - Faculty of Materials Science and Engineering]
_nA. Kozubowski.
246 1 5 _aEM'99
260 _aKraków :
_b"Fotobit",
_ccop. 1999.
300 _a447 s. :
_bfot., rys., wykr. ;
_c24 cm.
500 _aTyt. ze s. przedtyt. : EM'99.
504 _aBibliogr. przy ref. - Indeks.
650 9 _aCiało stałe
_xbadanie
650 9 _aMateriałoznawstwo
_xmetody
650 9 _aMikroskop elektronowy
_xstosowanie
655 _aMateriały konferencyjne
700 1 _aJezierski, E.
_eRed.
700 1 _aKozubowski, J.A.
_eRed.
710 0 _aWarsaw University of Technology
_bFaculty of Materials Science and Engineering
020 _a8390789248
040 _cBPK
041 0 _aen
080 _a620.1:538.9:537.5:621.385](061)
920 _a83-907892-4-8
942 _cKS
008 s pl f |000 0 pol
999 _c36618
_d36618