000			02164nam a2200577 i 4500
001			25900
003			KOSZ 005
005			20200827130522.0
008			200827s1970 pl a f 000 0 pol
015			_aUWD B 693/70-72
035			_a991036926129705066
035			_a(PL-WaBN)b19910216-48omnis_nlop
035			_ab19910216
035			_a(OCoLC)830889421
035			_a(PL)b0000001991021
035			_a(EXLNZ-48OMNIS_NETWORK)9910254361705606
040			_aWA N _cWA N
046			_k1970
080			_a621.38
080			_a621.315
080			_a620.1
245	0	0	_aMikroskop analizacyjny do badań w podczerwieni typ MAP-69 / _cJerzy Kania [et al.] ; Instytut Technologii Elektronowej przy Naukowo-Produkcyjnym Centrum Półprzewodników.
260			_aWarszawa : _b"Wema", _c1970.
300			_a32 strony : _bilustracje ; _c24 cm.
336			_aTekst _btxt _2rdacontent
337			_aBez urządzenia pośredniczącego _bn _2rdamedia
338			_aWolumin _bnc _2rdacarrier
380			_aKsiążki
380			_aPublikacje fachowe
388	1		_a1901-2000
388	1		_a1945-1989
490	1		_aPrace Instytutu Technologii Elektronowej ; _vIII, 43
504			_aBibliografia na stronie 32.
506			_aNa prawach rękopisu, do użytku służbowego.
650		7	_aPromieniowanie podczerwone
650		7	_aPółprzewodniki
650		7	_aMikroskop
655		7	_aOpracowanie
658			_aInżynieria i technika
700	1		_aKania, Jerzy _eAutor
700	1		_aKieniewicz, Romuald _eAutor
700	1		_aKurpiewski, Jerzy _eAutor
700	1		_aPaciorek, Wiesław _eAutor
700	1		_aRyttel, Witold _eAutor
710	2		_aCentrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. _bInstytut Technologii Elektronowej
710	2		_aWydawnictwa Przemysłu Maszynowego "Wema" _4pbl
830		0	_aPrace Instytutu Technologii Elektronowej CEMI _vIII, 43
856			_uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=25900 _yKatalog online BPK
942			_2UKD _cKS
999			_c25900 _d25900