000 02072nam a2200553 i 4500
001 25894
003 KOSZ 005
005 20200902095048.0
008 200902s1969 pl a f 000 0 pol
015 _aUWD B 1969/387
035 _a991036525229705066
035 _a(PL-WaBN)b19808914-48omnis_nlop
035 _ab19808914
035 _a(OCoLC)830882288
035 _a(PL)b0000001980891
035 _a(EXLNZ-48OMNIS_NETWORK)9910023656705606
040 _aWA N
_cWA N
_dKOSZ 005/RW
046 _k1969
080 _a621.38
080 _a548
080 _a543.5
100 1 _aFaudrowicz, Adam
_eAutor
245 1 0 _aBadanie wpływu defektów sieci na kształt linii EPR w rubinie /
_cAdam Faudrowicz ; Instytut Technologii Elektronowej przy Naukowo-Produkcyjnym Centrum Półprzewodników.
260 _aWarszawa :
_b"Wema",
_c1969.
300 _a45 stron :
_bilustracje ;
_c25 cm.
336 _aTekst
_btxt
_2rdacontent
337 _aBez urządzenia pośredniczącego
_bn
_2rdamedia
338 _aWolumin
_bnc
_2rdacarrier
380 _aKsiążki
380 _aPublikacje fachowe
388 1 _a1901-2000
388 1 _a1945-1989
490 1 _aPrace Instytut Technologii Elektronowej ;
_v54
504 _aBibliografia na stronach 43-45.
506 _aNa prawach rękopisu, do użytku wewnętrznego.
650 7 _aElektronika
650 7 _aKrystalografia
650 7 _aDefekty struktury krystalicznej
650 7 _aFizykochemiczne metody badawcze
655 7 _aOpracowanie
658 _aInżynieria i technika
658 _aFizyka i astronomia
710 2 _aCentrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki.
_bInstytut Technologii Elektronowej
710 2 _aWydawnictwa Przemysłu Maszynowego "Wema"
_4pbl
830 0 _aPrace Instytutu Technologii Elektronowej CEMI
_v54
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=25894
_yKatalog online BPK
942 _2UKD
_cKS
999 _c25894
_d25894