000 01493nam a2200445 i 4500
001 13086
003 KOSZ 005
005 20201002113444.0
008 070929s1968 pl a f 001 0 pol
015 _aPB 1968/7021
040 _aWA N
_cWA N
_dKOSZ 005/RW
_dKOSZ 005/HR
046 _k1968
080 _a620.1
080 _a621.38
080 _a621.039.8
100 1 _aSękowski, Stefan
_d(1925-2014)
_eAutor
245 1 0 _aRadiometryczne metody pomiaru grubości powłok /
_cStefan Sękowski, Ryszard Szepke.
260 _aWarszawa :
_bWydawnictwa Naukowo-Techniczne,
_c1968.
300 _a129, [2] s. :
_bil. ;
_c24 cm.
336 _2rdacontent
_aTekst
_btxt
337 _2rdamedia
_aBez urządzenia pośrednicząceog
_bn
338 _2rdacarrier
_aWolumin
_bnc
380 _aKsiążki
380 _aPublikacje naukowe
388 _a1901-2000
388 _a1945-1989
490 1 _aNowa Technika ;
_vz. 75.
504 _aBibliogr. przy rozdz. Indeks.
650 4 _aElektronika
650 4 _aUrządzenia
650 4 _aIzotopy promieniotwórcze
650 4 _aPowłoki ochronne
650 4 _aPomiary
658 _aInżynieria i technika
700 1 _aSzepke, Ryszard
_d(?-2004)
_eAutor
710 2 _aWydawnictwa Naukowo-Techniczne
_4pbl.
830 0 _aNT Nowa Technika
_vz. 75
856 _uhttp://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=13086
_yKatalog online BPK
942 _2UKD
_cKS
999 _c13086
_d13086