TY  - BOOK
ED  - KT nr 25 ds. Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
TI  - Papier i tektura: pomiar połysku
CY  - Warszawa
PB  - Polski Komitet Normalizacyjny
KW  - papier
KW  - tektura
KW  - połysk
KW  - reflektometr
KW  - wartość reflektometryczna
N1  - Wprowadza: ISO 8254-2:2003; Wprowadza: EN ISO 8254-2:2003; Zastępuje: PN-EN ISO 8254-2:2003 (U)
N2  - Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 75 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 65 mierzonym zgodnie z niniejszą normą europejską. Zaleca się, aby była preferowaną metodą dla papieru i tektury o poziomie połysku poniżej 20 mierzonego zgodnie z niniejszą normą europejską. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane
UR  - http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=65493
ER  -