TY  - BOOK
ED  - KT nr 25 ds. Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
TI  - Papier i tektura: pomiar połysku : połysk pod kątem 45 [stopni] z zastosowaniem wiązki równoległej, metodą DIN
CY  - Warszawa
PB  - Polski Komitet Normalizacyjny
KW  - papier
KW  - tektura
KW  - połysk
N1  - Wprowadza: EN 14086:2003; Zastępuje: PN-EN 14086:2003 (U)
N2  - Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 45 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o wysokim połysku, potocznie nazywanych lśniącymi papierami i tekturami, mającymi wartości współczynników odbicia fal, mierzone zgodnie z niniejszą normą europejską, powyżej 7. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane
UR  - http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=65492
ER  -