TY  - BOOK
AU  - SIKORSKI,Krzysztof
TI  - Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek
T2  - Prace Naukowe / Politechnika Warszawska. Inżynieria Materiałowa,
PY  - 2000///
CY  - Warszawa
PB  - Oficyna Wydawnicza PW
KW  - Cienkie warstwy
KW  - badanie
KW  - Cząsteczka
KW  - Chemia analityczna ilościowa
KW  - metody
KW  - Rentgenografia
KW  - Spektroskopia
N1  - Opis wg okł; Bibliogr. s. 100-106
UR  - http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=39106
ER  -