00929nam a2200265 i 4500 bg SIKORSKI, Krzysztof Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski. Warszawa : Oficyna Wydawnicza PW, 2000. 106, [2] s. : wykr. ; 24 cm. Prace Naukowe / Politechnika Warszawska. Inżynieria Materiałowa, 1234-5229 ; z. 11 Opis wg okł. Bibliogr. s. 100-106. Cienkie warstwy badanie Cząsteczka badanie Chemia analityczna ilościowa metody Rentgenografia metody Spektroskopia metody Prace Naukowe (Politechnika Warszawska). Inżynieria Materiałowa ; z. 11 BPK pl en 543.4.062/.063 KS s pl f |000 0 pol 39106 39106 http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=39106 Katalog online BPK 0 0 0 0 BPK BPK w 57941 01544541 2027-04-23 2023-02-15 KS