Badanie wpływu defektów sieci na kształt linii EPR w rubinie Faudrowicz, Adam creator Autor Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki Instytut Technologii Elektronowej Wydawnictwa Przemysłu Maszynowego "Wema" pbl text Opracowanie pl Warszawa "Wema" 1969 monographic pol
print
45 stron : ilustracje ; 25 cm. specialized Adam Faudrowicz ; Instytut Technologii Elektronowej przy Naukowo-Produkcyjnym Centrum Półprzewodników. Bibliografia na stronach 43-45. Na prawach rękopisu, do użytku wewnętrznego. Elektronika Krystalografia Defekty struktury krystalicznej Fizykochemiczne metody badawcze 621.38 548 543.5 Prace Instytutu Technologii Elektronowej CEMI 54 http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=25894 http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=25894 Na prawach rękopisu, do użytku wewnętrznego. WA N 200902 20200902095048.0 25894