TY  - BOOK
AU  - HEDTKE,Rolf
TI  - Systemy mikroprocesorowe: niezawodność, testowanie, tolerancja błędów 
PY  - 1987///
CY  - Warszawa
PB  - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
UR  - http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=23868
ER  -