TY  - BOOK
AU  - Sękowski,Stefan
AU  - Szepke,Ryszard
ED  - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
TI  - Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok
T2  - Nowa Technika
PY  - 1968///
CY  - Warszawa
PB  - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
KW  - Elektronika
KW  - Urządzenia
KW  - Izotopy promieniotwórcze
KW  - Powłoki ochronne
KW  - Pomiary
KW  - Inżynieria i technika
N1  - Bibliogr. przy rozdz. Indeks
UR  - http://koha.tu.koszalin.pl/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=13086
ER  -