Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.
Material type: TextLanguage: Polish Publication details: Wrocław : [s.n.], 1976.Description: 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunkiContent type:- Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
Item type | Current library | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Doctor's thesis | Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Informatorium | RD 002 | Tylko na miejscu | 00900393 |
Druk jednostronny.
Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.
Bibliografia na stronach 116-120.
Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.