BPK logo

Biblioteka

Politechniki Koszalińskiej

Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.

By: Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: Polish Publication details: Wrocław : [s.n.], 1976.Description: 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunkiContent type:
  • Tekst
Media type:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Carrier type:
  • Wolumin
Subject(s): Genre/Form: Online resources: Dissertation note: Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976. Summary: Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
List(s) this item appears in: Inżynieria materiałowa
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Shelving location Call number Status Date due Barcode Item holds
Doctor's thesis Doctor's thesis Biblioteka Politechniki Koszalińskiej Informatorium RD 002 Tylko na miejscu 00900393
Total holds: 0

Druk jednostronny.

Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.

Bibliografia na stronach 116-120.

Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.

Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.

© 2023 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: KOHA