Logo BPK

Biblioteka

Politechniki Koszalińskiej

Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Wrocław : [s.n.], 1976.Opis: 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunki.Typ zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
Tematy: Rodzaj/forma: Zasoby online: Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976. Streszczenie: Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
Listy, na których występuje ta pozycja: Inżynieria materiałowa
Twoja ocena
    średnia ocena: 0.0 (0 głosów)
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Lokalizacja Sygnatura Status Termin zwrotu Kod kreskowy Zamówienia
Rozprawa doktorska Rozprawa doktorska Biblioteka Politechniki Koszalińskiej Informatorium RD 002 Tylko na miejscu 00900393
Liczba zamówień: 0

Druk jednostronny.

Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.

Bibliografia na stronach 116-120.

Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.

Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.

© 2023 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: KOHA