Logo BPK

Biblioteka

Politechniki Koszalińskiej

Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska / Krzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Koszalin : [s.n.], 2014.Opis: 130 stron : Ilustracje ; 30 cm + 1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzje.Typ zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
  • Komputer
Typ nośnika:
  • Wolumin
  • Dysk komputerowy
Inny tytuł:
  • Spectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
Tematy: Rodzaj/forma: Zasoby online: Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014. Streszczenie: Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
Listy, na których występuje ta pozycja: Elektronika i telekomunikacja | Inżynieria materiałowa
Twoja ocena
    średnia ocena: 0.0 (0 głosów)
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Lokalizacja Sygnatura Status Termin zwrotu Kod kreskowy Zamówienia
Rozprawa doktorska Rozprawa doktorska Biblioteka Politechniki Koszalińskiej Informatorium RD 198 Tylko na miejscu 09040991
Liczba zamówień: 0

Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.

Bibliografia na stronach 105-116.

Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.

Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.

Streszczenie w języku polskim i angielskim.

© 2023 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: KOHA