System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska / Krzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Koszalin : [s.n.], 2014.Opis: 130 stron : Ilustracje ; 30 cm + 1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzje.Typ zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Komputer
- Wolumin
- Dysk komputerowy
- Spectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Lokalizacja | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Rozprawa doktorska
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Informatorium | RD 198 | Tylko na miejscu | 09040991 |
Liczba zamówień: 0
Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.
Bibliografia na stronach 105-116.
Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.
Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
Streszczenie w języku polskim i angielskim.