BPK logo

Biblioteka

Politechniki Koszalińskiej

System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska / Krzysztof Dorywalski ; Politechnika Koszalińska. Wydział Elektroniki i Informatyki.

By: Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: Polish Summary language: English Publication details: Koszalin : [s.n.], 2014.Description: 130 stron : Ilustracje ; 30 cm + 1 dysk optyczny (CD ROM) ; 2 recenzjeContent type:
  • Tekst
Media type:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
  • Komputer
Carrier type:
  • Wolumin
  • Dysk komputerowy
Other title:
  • Spectroscopic ellipsometry system in application tothe properties studies of wide-bandgap optoelectronic materials
Subject(s): Genre/Form: Online resources: Dissertation note: Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014. Summary: Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.
List(s) this item appears in: Elektronika i telekomunikacja | Inżynieria materiałowa
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Call number Status Date due Barcode Item holds
Doctor's thesis Doctor's thesis Biblioteka Politechniki Koszalińskiej Informatorium RD 198 Tylko na miejscu 09040991
Total holds: 0

Rozprawa doktorska. Politechnika Koszalińska. 2014.

Bibliografia na stronach 105-116.

Dostępne online wszystkim użytkownikom bez ograniczeń, bez możliwości sporządzania kopii.

Praca poświęcona implementacji techniki spektroskopii elipsometrycznej w zakresie widmowym światła widzialnego, nadfioletu i nadfioletu próżniowego VIS-UV-VUV do badań własności wybranych materiałów dla optoelektroniki.

Streszczenie w języku polskim i angielskim.

© 2023 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: KOHA