Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej / Józef Paduch, Jerzy Wojtas, Edward Barszcz ; Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych.
Material type:
TextLanguage: pl Series: Prace ITMEPublication details: Warszawa : Wydawnictwa Przemysłowe WEMA, 1992.Description: 35, [1] s. : fot., rys., wykr. ; 24 cmSubject(s): Online resources:
| Item type | Current library | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Book
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Magazyn Czasopism | 01156C3458 | Tylko na miejscu | 01156C3458 |
Total holds: 0
Bibliogr. s. 35.