Papier i tektura : pomiar połysku : połysk pod kątem 45 [stopni] z zastosowaniem wiązki równoległej, metodą DIN.
Papier i tektura : pomiar połysku : połysk pod kątem 45 [stopni] z zastosowaniem wiązki równoległej, metodą DIN.
- Zatwierdzono: 2004.12.14
- Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny
PN-EN 14086:2004
Wprowadza: EN 14086:2003 Zastępuje: PN-EN 14086:2003 (U)
Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 45 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o wysokim połysku, potocznie nazywanych lśniącymi papierami i tekturami, mającymi wartości współczynników odbicia fal, mierzone zgodnie z niniejszą normą europejską, powyżej 7. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane.
papier tektura połysk
PN-EN 14086:2004
Wprowadza: EN 14086:2003 Zastępuje: PN-EN 14086:2003 (U)
Określono fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku, gdy wartość reflektometryczna jest mierzona pod kątem 45 [stopni]. Metodę tą stosuje się do płaskich powierzchni papieru i tektury o wysokim połysku, potocznie nazywanych lśniącymi papierami i tekturami, mającymi wartości współczynników odbicia fal, mierzone zgodnie z niniejszą normą europejską, powyżej 7. Materiały zawierające wybielacze optyczne mogą być badane.
papier tektura połysk