Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni /
Wieczorowski, Michał
Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni / Michał Wieczorowski. - Poznań : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009. - 340, [1] s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cm. - (Rozprawy / Politechnika Poznańska, 0551-6528 ; nr 429 )
Bibliografia na stronach 263-340.
Streszcz. ang.
9788371438066
PB 16323/2009
Chropowatość
Pomiary
Inżynieria powierzchni
Powierzchnia
Rozprawa habilitacyjna
Monografia
Inżynieria i technika
621.791/.795 620.17 531.7
Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni / Michał Wieczorowski. - Poznań : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009. - 340, [1] s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cm. - (Rozprawy / Politechnika Poznańska, 0551-6528 ; nr 429 )
Bibliografia na stronach 263-340.
Streszcz. ang.
9788371438066
PB 16323/2009
Chropowatość
Pomiary
Inżynieria powierzchni
Powierzchnia
Rozprawa habilitacyjna
Monografia
Inżynieria i technika
621.791/.795 620.17 531.7