Podstawy metrologii / Jan Ciepłucha.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Serie: Podręczniki Akademickie - Politechnika ŁódzkaSzczegóły wydania: Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2008.Wydanie: Wyd. 2 rozsz. i zm.Opis: 288 s. : il. ; 24 cm.ISBN: - 9788372832702
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Czytelnia BG | 90994 | 006 Normalizacja. Metrologia | Tylko na miejscu | 02472478 |
Liczba zamówień: 0
Na grzb. kolejny nr wydawnictw PŁ: 1806.
Bibliogr. s. 269-271. Indeks.