Automatyczne testowanie w mikroelektronice / Andrzej Sowiński ; [rozdział 12 opracował Marek A. Kubiś].
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, 1991.Opis: 432 strony, [2] karty tablic luzem : ilustracje ; 25 cm.Typ zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 8320609569
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | P 41443 | Dostępny | 02007854 | |||||||||||||
|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | P 41444 | Dostępny | 02007861 | |||||||||||||
|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | P 41445 | Dostępny | 02007878 |
Liczba zamówień: 0
Bibliografia na stronach 415-432.