Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: pl Język streszczenia: en Serie: Prace Naukowe (Politechnika Warszawska).. Inżynieria Materiałowa ; ; z. 11Szczegóły wydania: Warszawa : Oficyna Wydawnicza PW, 2000.Opis: 106, [2] s. : wykr. ; 24 cm.Tematy: Zasoby online:
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | 57941 | Wypożyczono | 23.04.2027 | 01544541 |
Liczba zamówień: 0
Opis wg okł.
Bibliogr. s. 100-106.