Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej / Józef Paduch, Jerzy Wojtas, Edward Barszcz ; Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: pl Serie: Prace ITMESzczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Przemysłowe WEMA, 1992.Opis: 35, [1] s. : fot., rys., wykr. ; 24 cm.Tematy: Zasoby online:
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Magazyn Czasopism | 01156C3458 | Tylko na miejscu | 01156C3458 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 35.