Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.
Rodzaj materiału:
TekstSerie: NT Nowa Technika ; z. 75Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1968.Opis: 129, [2] s. : il. ; 24 cm.Typ zawartości: - Tekst
- Wolumin
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | 9648 | Dostępny | 01326154 | |||||||||||||
|
Książka
|
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej | Wypożyczalnia BG | 9648/L | Dostępny | 01390469 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz. Indeks.